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廣東星拓環(huán)境試驗設備科技有限公司

PCT老化試驗箱
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飽和PCT老化試驗箱 APCT-S系列

  • 簡要描述:
    PCT老化試驗箱(又稱PCT高壓加速老化試驗機)可模擬半導體、PCB、IC、LCD等試品PCT測試所需嚴苛溫度、濕度及高氣壓綜合環(huán)境以驗證產(chǎn)品封裝耐壓性氣密性。
  • 主要性能:

    • 型號:APCT-S系列  標稱內(nèi)容積:標箱或定制

  • 突出特點:

飽和PCT老化試驗箱 APCT-S系列

PCT老化試驗箱(又稱PCT高壓加速老化試驗機)可模擬半導體、PCB、IC、LCD等試品PCT測試所需嚴苛溫度、濕度及高氣壓綜合環(huán)境以驗證產(chǎn)品封裝耐壓性氣密性。

產(chǎn)品介紹

PCT高壓加速老化試驗箱(又名PCT老化試驗箱)是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,主要是模擬氣候環(huán)境測試產(chǎn)品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗設備。其廣泛應用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業(yè)。

    PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
 
依據(jù)試驗濕度飽和度可劃分為:飽和高壓加速老化試驗箱非飽和高壓加速老化試驗箱
 
非飽和高壓加速老化試驗機試驗標準及方法:
MS IEC 60068-2-66-2008  環(huán)境試驗 第2-66部分-試驗方法 試驗Cx-穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽和加壓蒸汽)
 
PCT高壓加速老化試驗箱應用領域:
航空航天  國防軍工  汽車機電  信息通訊  能源材料  行業(yè)定制
 
星拓PCT加速老化試驗箱APCT-S


注:支持非標定制

飽和PCT老化試驗箱 APCT-S系列參數(shù)

飽和PCT老化試驗箱 APCT-S系列參數(shù)

應用領域

  • 航空航天

    航空航天

  • 國防軍工

    國防軍工

  • 汽車機電

    汽車機電

  • 信息通信

    信息通信

  • 能源材料

    能源材料

  • 行業(yè)定制

    行業(yè)定制

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